数控机床性试验是性研究一个非常重要的环节，是对数控机床产品性水平进行分析和评价的一种方法。数控机床性试验的目的是充分暴露产品在设计、制造和装配过程中的各种缺陷，进而为产品性奠定基础。性试验按试验场所的不同又可分为实验室试验和现场跟踪试验，按截尾方法分为定时截尾试验和定数截尾试验等。性试验按试验目的的不同可分为综合试验和工程试验。性综合试验包括模拟加载性能试验、加速寿命试验及失效分析等研究内容。综合试验 先要设计制造试验台，其次根据产品性综合试验计划安排试验，根据的试验结果，分析试验条件、环境条件、失效模式、失效判据、任务剖面、试验剖面、性能检测点及检测周期等，为产品设计改进提出建议。而工程试验的研究内容包括设计环境应力加载方式与方法，进行筛选试验，筛除早期故障，目的是迫使存在于产品中的会变成早期故障的缺陷提前变成故障，以便在产品投入现场使用前就加以纠正；通过统计模型、环境应力、应力水平、试验顺序研究，加速寿命试验中设计额定应力 大值和设计应力 值研究，破坏性评估试验中应力步进的步长研究。进行加速寿命试验的目的是让一台或多台试验产品承受加强的环境应力，从而使失效显现得比正常使用环境要快。
初将性试验技术应用在电子，起步较早。直到20世纪70年代后期，性试验才逐步应用在机械产品。1977年， JLC(联合后勤司令部)成立了机械系统性试验小组，主要研究机械设备的性试验存在的问题，制定性试验程序和规范，并发展新的性试验方法。
国内的性试验研究起步较晚， 初同样是将性试验技术应用于电子，自70年代末以来，开展了大量的寿命与性的研究工作。
现阶段，数控机床性试验主要是早期故障试验及现场跟踪试验，前者的目的是激发产品的早期故障，并采取相应措施故障，而后者通过采集现场故障数据，为性增长及性设计提供数据基础。
